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  • INFRAMET VSB真空面源黑體,模擬太空環(huán)境條件下的紅外測(cè)試系統(tǒng)

    INFRAMET VSB真空面源黑體,模擬太空環(huán)境條件下的紅外測(cè)試系統(tǒng)

    2024-12-23

    在將紅外系統(tǒng)送入太空之前,通常需要在冷卻真空艙中使用黑體進(jìn)行測(cè)試,以模擬太空環(huán)境。VSB黑體是一種新型黑體,由Inframet推出,專為空間實(shí)驗(yàn)室需求設(shè)計(jì),能夠在太空環(huán)境條件下工作,并通過(guò)艙外PC進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。其發(fā)射器尺寸范圍為50x50mm到150x150mm,溫度通過(guò)加熱元件調(diào)節(jié),穩(wěn)定性由超精密算法實(shí)現(xiàn)。VSB黑體還與MRW-8旋轉(zhuǎn)輪協(xié)同工作,適用于模擬低至中等溫度目標(biāo)。真空黑體源通過(guò)將黑體置于真空腔室中,減少空氣對(duì)流和熱傳導(dǎo)的影響,提供更純凈的熱輻射信號(hào),廣泛用于紅外探測(cè)設(shè)備的校準(zhǔn)、航天設(shè)備的標(biāo)定、熱成像系統(tǒng)性能測(cè)試及材料熱輻射特性研究。

  • 硅片專用測(cè)溫儀-Impac IS 50-Si-LO plus

    硅片專用測(cè)溫儀-Impac IS 50-Si-LO plus

    2024-11-15

    碳化硅(SiC)因其優(yōu)異的高溫和低溫工作性能在半導(dǎo)體領(lǐng)域備受關(guān)注。作為一種寬禁帶半導(dǎo)體,碳化硅在極端溫度下仍能保持良好的電氣性能,具有廣泛的應(yīng)用前景。溫度變化會(huì)影響碳化硅片的物理、化學(xué)和電學(xué)性能,高溫下其熱膨脹、硬度及機(jī)械性能改變,低溫時(shí)則收縮、變脆。Impac IS 50-Si-LO plus測(cè)溫儀適用于硅片測(cè)量,測(cè)溫范圍為400-1600°C,配備光纖及可更換測(cè)頭,不受電磁干擾,耐溫高達(dá)250°C,并可根據(jù)測(cè)量距離選擇不同測(cè)頭,實(shí)現(xiàn)小光斑尺寸測(cè)量。

  • 一文讀懂INFRAMET熱像儀測(cè)試系統(tǒng)如何選型!

    一文讀懂INFRAMET熱像儀測(cè)試系統(tǒng)如何選型!

    2024-11-11

    Inframet熱像儀測(cè)試系統(tǒng)包括三種類型:可變目標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)、可變距離測(cè)試系統(tǒng)以及可變目標(biāo)/距離測(cè)試系統(tǒng)。可變目標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)穩(wěn)定性高,測(cè)量精度好,但尺寸大,不便在實(shí)驗(yàn)室外使用。可變距離測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)緊湊,便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,但需要大黑體和大目標(biāo),且測(cè)試程序不如可變目標(biāo)系統(tǒng)用戶友好??勺兡繕?biāo)/距離測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合前兩者優(yōu)點(diǎn),成本低、質(zhì)量輕,但僅適用于測(cè)試短焦距熱成像儀。

  • 高溫?zé)Y(jié)爐測(cè)溫解決方案:IMPAC ISR 6 測(cè)溫儀

    高溫?zé)Y(jié)爐測(cè)溫解決方案:IMPAC ISR 6 測(cè)溫儀

    2024-11-08

    燒結(jié)爐是一種通過(guò)高溫將粉狀或細(xì)顆粒狀物料加工成固體材料的工業(yè)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于鋼鐵、冶金和新材料行業(yè)。爐膛工作溫度范圍為1000℃-2200℃,測(cè)量和控制溫度可采用熱電偶或輻射高溫計(jì)。低溫區(qū)使用熱電偶,高溫區(qū)使用光學(xué)測(cè)溫計(jì),測(cè)量溫度可達(dá)3500℃。IGA 320/23和ISR 6 Advanced是兩款適用于不同溫度區(qū)的紅外測(cè)溫儀,分別適合低溫區(qū)和高溫區(qū)燒結(jié)爐使用。紅外測(cè)溫儀相比熱電偶具有非接觸測(cè)量、響應(yīng)速度快、測(cè)溫范圍廣等優(yōu)勢(shì),但價(jià)格較高,需根據(jù)實(shí)際需求選擇。

  • 選擇紅外測(cè)溫儀時(shí),為何要考慮響應(yīng)時(shí)間?

    選擇紅外測(cè)溫儀時(shí),為何要考慮響應(yīng)時(shí)間?

    2024-11-08

    紅外測(cè)溫儀的響應(yīng)速度決定了其捕捉溫度瞬間變化的能力,響應(yīng)時(shí)間通常定義為到達(dá)后讀數(shù)的95%能量所需時(shí)間。新型紅外測(cè)溫儀的響應(yīng)時(shí)間可達(dá)1ms,遠(yuǎn)快于接觸式測(cè)溫方法。例如,Impac IGA 740測(cè)溫儀具有6微秒的超快響應(yīng)時(shí)間,適用于測(cè)量快速移動(dòng)物體和快速溫度變化。然而,并非所有應(yīng)用都需要快速響應(yīng)的紅外測(cè)溫儀,對(duì)于靜止目標(biāo)或存在熱慣性的熱過(guò)程,響應(yīng)時(shí)間要求可以放寬。因此,選擇紅外測(cè)溫儀時(shí)應(yīng)考慮被測(cè)目標(biāo)的具體情況。

  • 超高溫的石墨化爐測(cè)溫解決方案:IMPAC ISR 12-LO測(cè)溫儀

    超高溫的石墨化爐測(cè)溫解決方案:IMPAC ISR 12-LO測(cè)溫儀

    2024-11-08

    石墨化爐的工作溫度通常在2500°C以上,最高可達(dá)3200°C。紅外測(cè)溫探頭通過(guò)窗口實(shí)時(shí)觀測(cè)爐內(nèi)溫度,雙色紅外測(cè)溫儀因其抗煙霧和粉塵干擾的能力而被推薦。便攜式測(cè)溫儀也可用于測(cè)量高達(dá)3000℃的溫度。紅外測(cè)溫儀是非接觸式溫度測(cè)量工具,適用于高溫環(huán)境,如石墨化爐。ISR 12-LO是一款高精度的雙色測(cè)溫儀,測(cè)量溫度可達(dá)3300℃,不受灰塵和污染物影響,具有單色、雙色和金屬模式,適用于不同測(cè)量需求。

  •  Impac IGAR 6 Smart 紅外測(cè)溫儀——非接觸式紅外測(cè)溫解決方案

    Impac IGAR 6 Smart 紅外測(cè)溫儀——非接觸式紅外測(cè)溫解決方案

    2024-10-15

    Impac IGAR 6 Smart紅外測(cè)溫儀通過(guò)其精確的溫度測(cè)量能力,為金屬加工、玻璃制造和陶瓷燒結(jié)等高溫場(chǎng)景提供了有效的解決方案。該測(cè)溫儀具備單色、雙色及智能模式三種工作模式,適應(yīng)不同的測(cè)量需求,并能在復(fù)雜環(huán)境中減少測(cè)量誤差。其快速響應(yīng)能力和高可靠性設(shè)計(jì),使其在動(dòng)態(tài)生產(chǎn)環(huán)境和惡劣條件下仍能保持穩(wěn)定運(yùn)行。此外,IGAR 6 Smart廣泛應(yīng)用于多個(gè)行業(yè),通過(guò)自動(dòng)發(fā)射率測(cè)定和報(bào)警系統(tǒng),優(yōu)化生產(chǎn)過(guò)程,提升產(chǎn)品質(zhì)量。

  • 碳化硅SiC外延工藝溫度監(jiān)測(cè)方案

    碳化硅SiC外延工藝溫度監(jiān)測(cè)方案

    2024-10-08

    SiC外延工藝需嚴(yán)格控制厚度、摻雜、缺陷率和生長(zhǎng)速率,常用方法包括CVD、LPE和MBE,其中CVD因其成本適中、質(zhì)量好和生長(zhǎng)速度快而應(yīng)用最廣。該工藝需在高達(dá)1700℃的高溫下進(jìn)行,涉及復(fù)雜氣氛環(huán)境,對(duì)設(shè)備設(shè)計(jì)與控制提出高要求。SiC CVD外延設(shè)備主要采用水平熱壁、水平溫壁和垂直熱壁三種結(jié)構(gòu)形式。在水平熱壁單片式外延爐中,高溫計(jì)通過(guò)石英窗口和石墨熱壁開孔測(cè)量溫度,可選用激光或視頻瞄準(zhǔn)形式。

  • 如何確保非接觸式紅外測(cè)溫儀的高精度?

    如何確保非接觸式紅外測(cè)溫儀的高精度?

    2024-09-29

    為了確保非接觸式紅外測(cè)溫技術(shù)的精確性,用戶需注意五個(gè)關(guān)鍵要素:測(cè)溫儀與目標(biāo)的距離、視野范圍、環(huán)境條件、環(huán)境溫度及物體的輻射率。測(cè)溫儀與目標(biāo)的距離影響光學(xué)分辨率,視野范圍要求目標(biāo)尺寸大于測(cè)量光點(diǎn),環(huán)境條件需考慮顆粒物和干擾因素,環(huán)境溫度變化需設(shè)備適應(yīng),發(fā)射率影響紅外能量吸收和發(fā)射特性。選擇合適的紅外傳感器并遵循這些要素,可確保精確測(cè)量。

  • 紅外測(cè)溫儀校準(zhǔn)方案,確保溫度準(zhǔn)確性

    紅外測(cè)溫儀校準(zhǔn)方案,確保溫度準(zhǔn)確性

    2024-09-14

    黑體輻射源校準(zhǔn)器是紅外溫度計(jì)校準(zhǔn)的重要工具,通過(guò)模擬理論上的“完美發(fā)射器”黑體,提供堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。盡管實(shí)際黑體不存在,但實(shí)驗(yàn)室輻射源能以高效率發(fā)射輻射,便于精確校準(zhǔn)高溫計(jì)。然而,黑體校準(zhǔn)器價(jià)格昂貴且操作復(fù)雜,常用于制造商出廠前校準(zhǔn)。在實(shí)際應(yīng)用中,常將高溫計(jì)送至合格店校準(zhǔn)。為確保精度,可使用多個(gè)高溫計(jì)測(cè)量同一熱能區(qū)域,調(diào)整新高溫計(jì)以匹配現(xiàn)有高溫計(jì),但需確?,F(xiàn)有高溫計(jì)的準(zhǔn)確性。測(cè)量同一區(qū)域是確保精度的關(guān)鍵。