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差分黑體溫差對MRTD的影響

在MRTD測試過程中，紅外熱像儀評估系統(tǒng)通過差分黑體產(chǎn)生溫差（其中白桿為正，黑桿為負）。這些溫差經(jīng)過光學系統(tǒng)后被熱像儀接收，實際測量的是目標和背景的輻射溫差。由于熱像儀接收到的信號是輻射溫差，因此它直接影響到MRTD的測試結(jié)果。

由于差分黑體的溫度傳感器存在測量誤差（如傳感器位置與輻射面之間的距離、測量準確性等），因此差分黑體的實際溫度與控制器設定的溫度之間可能存在差異，導致溫差的測量不準確，從而影響MRTD的計算結(jié)果。

 差分黑體發(fā)射率對MRTD的影響

普朗克黑體輻射理論表明，黑體的輻射主要由溫度和發(fā)射率決定。在MRTD測試中，差分黑體的溫度和發(fā)射率共同影響熱像儀接收到的輻射。然而，差分黑體的實際發(fā)射率一般低于理想的黑體發(fā)射率（通常在0.92至0.98之間）。這意味著，雖然理論上假設目標和背景黑體的發(fā)射率為1（理想黑體發(fā)射率），但實際發(fā)射率的偏差會對輻射強度產(chǎn)生顯著影響，從而影響MRTD測量的準確性。

總結(jié)

• 差分黑體溫差的不準確性是MRTD測試中的一個主要誤差源，因為它直接影響到溫差的測量和MRTD的計算結(jié)果。

• 發(fā)射率的影響同樣顯著，差分黑體的實際發(fā)射率通常低于理想值，并且隨著波長的變化，發(fā)射率對輻射的影響會更大，這也會對MRTD測試結(jié)果產(chǎn)生較大的誤差。

推薦型號：INFRAMET TCB差分面源黑體

TCB系列黑體是差分面源黑體，旨在模擬低溫和適宜的常溫目標。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的絕對溫度通常從0℃至100℃可調(diào)節(jié)，但范圍可擴展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面（從50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的發(fā)射器，高達1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS光電測試系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應用的獨立模塊提供。